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  • SN/ST-21北京四探針方塊電阻測試儀

    北京四探針方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)。

    更新時間：2024-10-17
    產(chǎn)品型號：SN/ST-21
    瀏覽量：1426
  • SN/RTS-9北京雙電測四探針測試儀

    北京雙電測四探針測試儀 RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。

    更新時間：2024-10-17
    產(chǎn)品型號：SN/RTS-9
    瀏覽量：803
  • SN/RTS-4北京單晶硅物理測試儀

    北京單晶硅物理測試儀運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 a.s.t.m 標準而設(shè)計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析。

    更新時間：2024-10-17
    產(chǎn)品型號：SN/RTS-4
    瀏覽量：872
  • SN/RTS-8北京數(shù)字式四探針測試儀

    北京數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析。

    更新時間：2024-10-17
    產(chǎn)品型號：SN/RTS-8
    瀏覽量：1016
  • SN/2513北京直流低電阻測試儀

    北京直流低電阻測試儀2513直流低電阻測試儀量程范圍為200 mΩ－2 kΩ，10 μA－100 mA的測試電流。適用于小型變壓器及電感線圈銅阻, 繼電器接觸電阻, 開關(guān), 接插件接觸電阻, 導線電阻, 元件焊點接觸電阻印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷等。

    更新時間：2024-10-17
    產(chǎn)品型號：SN/2513
    瀏覽量：791
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